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機(jī)構(gòu)所在地:廣東省深圳市
檢測(cè)項(xiàng):磁場(chǎng)敏感度 檢測(cè)樣品:電子計(jì)算器 標(biāo)準(zhǔn):電子計(jì)算器通用技術(shù)條件 GB/T 4967-1995
機(jī)構(gòu)所在地:湖北省武漢市
檢測(cè)項(xiàng):晶間腐蝕 檢測(cè)樣品:金屬與合金 標(biāo)準(zhǔn):《奧氏體不銹鋼晶間腐蝕敏感度試驗(yàn)方法》ASTM A262-2010
檢測(cè)項(xiàng):氫致開(kāi)裂 檢測(cè)樣品:金屬與合金 標(biāo)準(zhǔn):《鍛制高鎳鉻軸承合金晶間腐蝕敏感度試驗(yàn)方法》ASTM G 28-02(2008)
檢測(cè)項(xiàng):晶間腐蝕 檢測(cè)樣品:金屬與合金 標(biāo)準(zhǔn):《奧氏體不銹鋼晶間腐蝕敏感度試驗(yàn)方法》ASTM A262-2010
機(jī)構(gòu)所在地:甘肅省蘭州市
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
檢測(cè)項(xiàng):靜電放電敏感度 檢測(cè)樣品:半導(dǎo)體集成電路外殼 標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005 方法1003
檢測(cè)項(xiàng):靜電放電敏感度 檢測(cè)樣品:半導(dǎo)體集成電路外殼 標(biāo)準(zhǔn):電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360A-1996 方法302
檢測(cè)項(xiàng):靜電放電敏感度 檢測(cè)樣品:半導(dǎo)體集成電路外殼 標(biāo)準(zhǔn):電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009方法302
機(jī)構(gòu)所在地:安徽省蚌埠市
機(jī)構(gòu)所在地:浙江省溫州市
機(jī)構(gòu)所在地:天津市
機(jī)構(gòu)所在地:江蘇省南京市
檢測(cè)項(xiàng):氫致 開(kāi)裂 檢測(cè)樣品:埋地 鋼質(zhì)管道 標(biāo)準(zhǔn):奧氏體不銹鋼晶間腐蝕 敏感度的檢測(cè)方法 ASTM A262-13
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省廣州市