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半導(dǎo)體集成電路外殼中靜電放電敏感度檢測(cè)

  • 樣品名稱(chēng)：半導(dǎo)體集成電路外殼

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：靜電放電敏感度

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：電子及電氣元件試驗(yàn)方法　 GJB360B-2009方法302

  • 所屬行業(yè)分類(lèi)：電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >

  • 標(biāo)簽： 靜電放電敏感度 半導(dǎo)體集成電路外殼

半導(dǎo)體集成電路外殼相關(guān)熱點(diǎn)檢測(cè)

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