您當(dāng)前的位置:首頁 > 輸出低電平電流IOL
電位治療設(shè)備產(chǎn)品描述:通常由主機(jī)、治療毯(墊)、局部治療頭、踏板電極、地電極、治療椅等組成。該類設(shè)備將人體全部或局部置于電場中,通過低于1000V的電壓產(chǎn)生的電場進(jìn)行治療。 電位治療設(shè)備預(yù)期用途:用于頭疼、失眠、慢性便秘和軟組織損傷引起的疼痛等病癥的輔助治療。 電位治療設(shè)備品名舉例:低電位治療儀 電位治療設(shè)備管理類別:Ⅱ 電位治療設(shè)備相關(guān)標(biāo)...查看詳情>>
電位治療設(shè)備產(chǎn)品描述:通常由主機(jī)、治療毯(墊)、局部治療頭、踏板電極、地電極、治療椅等組成。該類設(shè)備將人體全部或局部置于電場中,通過低于1000V的電壓產(chǎn)生的電場進(jìn)行治療。收起百科↑ 最近更新:2023年03月22日
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省珠海市
檢測項:輸出低電平電流IOL 檢測樣品:微電子器件 標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗方法和程序GJB548B-2005
檢測項:過流保護(hù)門限電流 檢測樣品:車載穩(wěn)壓電源 標(biāo)準(zhǔn):GJB3836—99車載穩(wěn)壓電源通用規(guī)范
機(jī)構(gòu)所在地:河南省鄭州市
檢測項:輸出低電平電流IOL 檢測樣品:運(yùn)算放大器 標(biāo)準(zhǔn):《半導(dǎo)休集成電路運(yùn)算(電壓)放大器測試方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
機(jī)構(gòu)所在地:貴州省貴陽市
檢測項:輸出低電平電流IOL 檢測樣品:半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn):SJ/T10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
檢測項:低電平輸出電流IOL 檢測樣品:電壓調(diào)整器 標(biāo)準(zhǔn):GB/T 4377-1996《半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測試方法的基本原理》
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
檢測項:低電平輸出電流IOL 檢測樣品:半導(dǎo)體集成電路TTL電路 標(biāo)準(zhǔn):SJ/T10735-1996《半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理》
檢測項:輸出低電平電流IOL 檢測樣品:半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn):SJ/T10741-2000《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理》
檢測項:輸入出低電平電壓VIL 檢測樣品:半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn):SJ/T10741-2000《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理》
機(jī)構(gòu)所在地:湖北省武漢市
檢測項:輸出低電平電流IOL 檢測樣品:TTL 電路測試 標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996
檢測項:輸出低電平電流IOL 檢測樣品:TTL 電路測試 標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 (GB 3439-1982)
機(jī)構(gòu)所在地:遼寧省沈陽市
檢測項:平墊圈公差 檢測樣品:緊固件公差平墊圈 標(biāo)準(zhǔn):《緊固件公差 平墊圈》 ISO 4759-3: 2000 《緊固件公差 平墊圈》 GB/T 3103.3-2000
檢測項:平墊圈公差 檢測樣品:緊固件公差平墊圈 標(biāo)準(zhǔn):《緊固件公差 平墊圈》 ISO 4759-3: 2000 《緊固件公差 平墊圈》 GB/T 3103.3-2000
檢測項:全部參數(shù) 檢測樣品:平墊圈 標(biāo)準(zhǔn):《平墊圈》 ASTM B 18.22.1-1965
機(jī)構(gòu)所在地:浙江省杭州市