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半導(dǎo)體集成電路CMOS電路中輸出低電平電流IOL檢測(cè)

  • 樣品名稱(chēng)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：輸出低電平電流IOL

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理

  • 所屬行業(yè)分類(lèi)：電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >

  • 標(biāo)簽： 輸出低電平電流IOL 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路

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