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針入度(Needlepenetration) 針入度是以標(biāo)準(zhǔn)針在一定的荷重、時間及溫度條件下垂直穿入瀝青試樣的深度來表示,單位為1/10mm。非經(jīng)另行規(guī)定,標(biāo)準(zhǔn)針、針連桿與附加砝碼的合重為100±0.1g,溫度25℃,時間為5s。針入度愈大表示愈軟,即稠度愈小;反之則表示愈硬,即稠度愈大。 針入度 測試儀器:針入度電腦式、針入...查看詳情>>
針入度(Needlepenetration)
針入度是以標(biāo)準(zhǔn)針在一定的荷重、時間及溫度條件下垂直穿入瀝青試樣的深度來表示,單位為1/10mm。非經(jīng)另行規(guī)定,標(biāo)準(zhǔn)針、針連桿與附加砝碼的合重為100±0.1g,溫度25℃,時間為5s。針入度愈大表示愈軟,即稠度愈小;反之則表示愈硬,即稠度愈大。
針入度測試儀器:針入度電腦式、針入度數(shù)顯式
收起百科↑ 最近更新:2017年03月21日
檢測項(xiàng):線材傳輸特性阻抗 檢測樣品:電子連接器 標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-108-2000 電子及電氣零組件的反射系數(shù),駐波抑制比, 反射損耗,特性阻抗
檢測項(xiàng):塑膠色差 檢測樣品:塑料材料 標(biāo)準(zhǔn):ASTM D2244-2011 用儀器測定顏色坐標(biāo)法計(jì)算顏色容差和色差的規(guī)程
機(jī)構(gòu)所在地:江蘇省昆山市
檢測項(xiàng):電源電壓抑制比 檢測樣品:CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn):GJB548B--2005微電子器件試驗(yàn)方法和程序第4.5節(jié)方法5005.2
檢測項(xiàng):電源電壓抑制比 檢測樣品:電壓比較器 標(biāo)準(zhǔn):SJ/T10805-2000半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理
檢測項(xiàng):共模抑制比 檢測樣品:電壓比較器 標(biāo)準(zhǔn):SJ/T10805-2000半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理
機(jī)構(gòu)所在地:江蘇省南京市
檢測項(xiàng):紋波抑制比SIip 檢測樣品:半導(dǎo)體集成電路電壓比較器 標(biāo)準(zhǔn):GB/T6798-1996 半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理
機(jī)構(gòu)所在地:湖南省長沙市
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
機(jī)構(gòu)所在地:四川省成都市
機(jī)構(gòu)所在地:江蘇省昆山市
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
機(jī)構(gòu)所在地:福建省福州市