您當前的位置:首頁 > 輸入差拍抑制比
針入度(Needlepenetration) 針入度是以標準針在一定的荷重、時間及溫度條件下垂直穿入瀝青試樣的深度來表示,單位為1/10mm。非經(jīng)另行規(guī)定,標準針、針連桿與附加砝碼的合重為100±0.1g,溫度25℃,時間為5s。針入度愈大表示愈軟,即稠度愈小;反之則表示愈硬,即稠度愈大。 針入度 測試儀器:針入度電腦式、針入...查看詳情>>
針入度(Needlepenetration)
針入度是以標準針在一定的荷重、時間及溫度條件下垂直穿入瀝青試樣的深度來表示,單位為1/10mm。非經(jīng)另行規(guī)定,標準針、針連桿與附加砝碼的合重為100±0.1g,溫度25℃,時間為5s。針入度愈大表示愈軟,即稠度愈?。环粗畡t表示愈硬,即稠度愈大。
針入度測試儀器:針入度電腦式、針入度數(shù)顯式
收起百科↑ 最近更新:2017年03月21日
檢測項:鄰道抑制比 檢測樣品:cdma2000 移動通信直放機 標準:《無線電規(guī)則》ITU-R
檢測項:諧波抑制 檢測樣品:GSM數(shù)字蜂窩基站 標準:《無線電規(guī)則》ITU-R
機構所在地:陜西省西安市
檢測項:鄰道抑制比 檢測樣品:光纜分纖箱 標準:YD/T2150-2010 光纜分纖箱
檢測項:可靠性試驗 檢測樣品:千兆比以太網(wǎng)用光收發(fā)合一模塊 標準:YD/T 1352-2005千兆比以太網(wǎng)用光收發(fā)合一模塊技術要求和測試方法
檢測項:光接口性能 檢測樣品:千兆比以太網(wǎng)用光收發(fā)合一模塊 標準:YD/T 1352-2005千兆比以太網(wǎng)用光收發(fā)合一模塊技術要求和測試方法
機構所在地:湖北省武漢市
檢測項:輸出共模 抑制比 檢測樣品:TTL電路 標準:SJ/T 10735-1996 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理
檢測項:電源電壓 抑制比 檢測樣品:TTL電路 標準:SJ/T 10735-1996 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理
機構所在地:云南省昆明市
機構所在地:山東省濟南市