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上海精密計(jì)量測試研究所

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流IIb 檢測樣品：三端穩(wěn)壓電源（電壓調(diào)整器） 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T4377-1996 半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測試方法的基本原理

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流IIb 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T14115-1993 半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流Ib 檢測樣品：模擬乘法器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 14029-1992 半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

西南技術(shù)物理研究所檢測校準(zhǔn)中心實(shí)驗(yàn)室

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流 檢測樣品：時(shí)基電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測試方法的基本原理 GB/T 14030-1992

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流 檢測樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電路試驗(yàn)方法和程序GJB 548B-2005

檢測項(xiàng)：粒子碰撞噪聲檢測試驗(yàn) 檢測樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB 360A－1996 方法 212 Y1

機(jī)構(gòu)所在地：四川省成都市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所檢測中心

檢測項(xiàng)：穩(wěn)態(tài) 濕熱 檢測樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：溫度濕度偏置循環(huán)壽命測試JESD22-A100C-2007

檢測項(xiàng)：溫度沖擊 （氣體介質(zhì)） 檢測樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：穩(wěn)態(tài)濕熱偏置壽命試驗(yàn)EIA/JESD22-A101c-2009

檢測項(xiàng)：粒子碰撞噪聲檢測 檢測樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：高溫存儲(chǔ)壽命 JESD22-A103D-2010

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省無錫市 更多相關(guān)信息>>

臺(tái)表科技（蘇州）電子有限公司實(shí)驗(yàn)室

檢測項(xiàng)：交變濕熱試驗(yàn) 檢測樣品：電子電氣產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 標(biāo)準(zhǔn)：穩(wěn)態(tài)溫度濕度偏置壽命試驗(yàn) JESD 22-A101C-2009

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省吳江市 更多相關(guān)信息>>

上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司檢測中心

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流 檢測樣品：CMOS集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流溫度系數(shù) 檢測樣品：CMOS集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流 檢測樣品：RF器件 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

云南昆船電子設(shè)備有限公司藍(lán)海綜合實(shí)驗(yàn)中心

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流 檢測樣品：TTL電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T 10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理

機(jī)構(gòu)所在地：云南省昆明市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團(tuán)公司第十四研究所檢測/試驗(yàn)中心

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流 檢測樣品：電壓比較器 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10805-2000半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流 檢測樣品：運(yùn)算放大器 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10738-1996半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算（電壓）放大器測試方法的基本原理

檢測項(xiàng)：粒子碰撞噪聲檢測 檢測樣品：閘流晶體管 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/Z9014.3-1987半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第６部分：閘流晶體管

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省南京市 更多相關(guān)信息>>

西南計(jì)算機(jī)有限責(zé)任公司檢測計(jì)量與軟件測評(píng)中心

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流 檢測樣品：電壓比較器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器 測試方法的基本原理 GB/T6798-1996

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流 檢測樣品：電壓比較器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器 測試方法的基本原理 GB/T6798-1996

檢測項(xiàng)：沖擊試驗(yàn) 檢測樣品：軍用及民用機(jī)械、電子類產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分： 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞 GB/T2423.6-1995

機(jī)構(gòu)所在地：重慶市 更多相關(guān)信息>>

中國空空導(dǎo)彈研究院元器件檢測中心

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流IIB 檢測樣品：晶體三極管 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4587-1994 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管

檢測項(xiàng)：偏置電流Ibias 檢測樣品：模擬/混合集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6798-1996 半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 17940-2000半導(dǎo)體器件集成電路 第3部分 模擬集成電路 GB/T4377-1996 半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測試方法的基本原理 GB/T 14028-199

機(jī)構(gòu)所在地：河南省洛陽市 更多相關(guān)信息>>

國營長風(fēng)機(jī)器廠環(huán)境試驗(yàn)檢測計(jì)量中心

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流 檢測樣品：數(shù)字集成 電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/10741-2000

檢測項(xiàng)：碰撞試驗(yàn) 檢測樣品：電子產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞 GB/T2423.6-1995

檢測項(xiàng)：碰撞試驗(yàn) 檢測樣品：電子產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法沖擊試驗(yàn)GJB150.18-1986

機(jī)構(gòu)所在地：甘肅省蘭州市 更多相關(guān)信息>>