您當(dāng)前的位置:首頁 > 中國電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所檢測(cè)中心 > 電子元器件中粒子碰撞噪聲檢測(cè)檢測(cè)
樣品名稱:電子元器件
檢測(cè)項(xiàng)目:粒子碰撞噪聲檢測(cè)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):高溫存儲(chǔ)壽命 JESD22-A103D-2010
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >
標(biāo)簽: 粒子碰撞噪聲檢測(cè) 電子元器件