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檢測項:元器件可焊性測試 檢測樣品:整流二極管 標(biāo)準(zhǔn):引線、端子、焊片、接線柱和導(dǎo)線的可焊性測試 EIA/IPC/JEDEC J-STD-002D (2013)
機構(gòu)所在地:
機構(gòu)所在地:江蘇省蘇州市
檢測項:部分電磁兼容項目 檢測樣品:電子計速表 標(biāo)準(zhǔn):電子計速表 電磁兼容性 EN 50148:1995
機構(gòu)所在地:四川省成都市
機構(gòu)所在地:廣東省東莞市
檢測項:低溫 檢測樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):《無源(被動)器件的應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn)》 表5, No 3 高溫儲存試驗
檢測項:交變濕熱 檢測樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):《無源(被動)器件的應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn)》 表5, No 7 恒定濕熱 AEC-Q
檢測項:可焊性測試 檢測樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):《元器件引線,端子,焊片,接線柱和導(dǎo)線的可焊性測試》 EIA/IPC/JEDEC J-STD-002D:2013
機構(gòu)所在地:廣東省深圳市
檢測項:漏--源短路時的柵極截止電流IGSS 檢測樣品:場效應(yīng)管 標(biāo)準(zhǔn):GB/T4586-1994 半導(dǎo)體器件分立器件第8部分:場效應(yīng)晶體管
檢測項:柵--源擊穿電壓BVGS 檢測樣品:場效應(yīng)管 標(biāo)準(zhǔn):GB/T4586-1994 半導(dǎo)體器件分立器件第8部分:場效應(yīng)晶體管
檢測項:漏--源通態(tài)電阻RDSon 檢測樣品:場效應(yīng)管 標(biāo)準(zhǔn):GB/T4586-1994 半導(dǎo)體器件分立器件第8部分:場效應(yīng)晶體管
機構(gòu)所在地:河南省洛陽市
機構(gòu)所在地:上海市