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芯片故障模式與測(cè)試方法培訓(xùn)PPT（31頁(yè)）

• 資料介紹

  芯片故障模式與測(cè)試方法培訓(xùn)PPT（31頁(yè)）

  主要內(nèi)容：

  芯片測(cè)試的意義
  晶圓片上的污染
  失效率隨芯片面積的增加而提高
  黑盒測(cè)試
  故障模型
  硬橋接故障
  參數(shù)故障（弱橋接）
  晶體管故障
  組合電路的測(cè)試模板
  時(shí)序電路
  掃描路徑
  測(cè)試能力設(shè)計(jì)（DFT，design for testability）
  邊界掃描
  TAP控制器
  IDDQ測(cè)試
  芯片可靠性

• 資料大小：
  322.61KB
• 所屬類別：
  檢測(cè)案例
• 更新日期：
  2022-04-07
• 適用行業(yè)：
  電子電氣；機(jī)動(dòng)車；醫(yī)療器械
• 上傳人：
  JENY
• 標(biāo) 簽：

  芯片 芯片故障

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