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GUIDELINES FOR PART AVERAGE TESTING
AEC-Q001 Rev-D 零件平均測(cè)試指南(12頁)
1. 范圍
本指南提出了一種基于統(tǒng)計(jì)的方法,稱為部件平均測(cè)試 (PAT),用于從按照 AEC-Q100 和 AEC-Q101 提供的半導(dǎo)體中去除具有異常特性(異常值)的部件。 PAT 中使用的測(cè)試限制是根據(jù)具有獨(dú)特設(shè)計(jì)和處理的特定部件的電氣測(cè)試結(jié)果樣本確定的。每個(gè)零件設(shè)計(jì)及其相關(guān)處理將顯示每個(gè)測(cè)試要求的測(cè)試結(jié)果的獨(dú)特分布,該數(shù)據(jù)是建立 PAT 限制的基礎(chǔ)。本指南中描述的原則適用于封裝或未封裝芯片。有關(guān) PAT 及其可能用于提供已知良好芯片的進(jìn)一步討論,請(qǐng)參見附錄 1。
1.1 目的
本指南旨在提供去除異常零件的通用方法,從而提高按照 AEC-Q100 和 AEC-Q101 供應(yīng)的零件的質(zhì)量和可靠性。 PAT 和 AEC-Q002(統(tǒng)計(jì)產(chǎn)量分析)并不是一項(xiàng)要求。應(yīng)用的確切方法可能與本指南中描述的不同,特別是如果分布是非正態(tài)的??梢栽诰哂辛己媒y(tǒng)計(jì)理由的情況下使用此類衍生方法。供應(yīng)商應(yīng)準(zhǔn)備好證明所使用的統(tǒng)計(jì)方法的合理性。
歷史表明,具有異常特性的零件會(huì)顯著導(dǎo)致質(zhì)量和可靠性問題。使用這種技術(shù)還可以標(biāo)記流程變化,并提供快速反饋的來源,以防止質(zhì)量事故。
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