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非高斯隨機振動激勵下電子零件加速測試的疲勞壽命預(yù)測模型(5頁)
Fatigue life prediction model for accelerated testing of electronic components under non-Gaussian random vibration excitations
Yu Jiang,J.Y. Tao,Y.A. Zhang,G.J. Yunb
基于隨機振動和疲勞理論,提出了一種非高斯隨機振動激勵下電子元件疲勞壽命的預(yù)測模型。該數(shù)學(xué)模型將電子部件的振動疲勞壽命,振動激勵的特征(例如均方根,功率譜密度,光譜帶寬和峰度值)與電子組件的動態(tài)傳遞特性(例如電子振動)綜合關(guān)聯(lián)起來。固有頻率和阻尼比)。同時提出了確定模型中未知參數(shù)的詳細求解方法。為了驗證模型,進行了一系列隨機振動疲勞加速試驗。結(jié)果表明,基于模型的預(yù)測疲勞壽命與實際試驗吻合。該疲勞壽命預(yù)測模型可用于振動疲勞加速試驗的定量設(shè)計,可用于評估高斯和非高斯隨機振動環(huán)境下電子組件的長期疲勞可靠性。
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