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集成電路 篩選中粒子碰撞噪聲檢測(PIND)檢測

  • 樣品名稱：集成電路 篩選

  • 檢測項(xiàng)目：粒子碰撞噪聲檢測(PIND)

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005

  • 所屬行業(yè)分類：

  • 標(biāo)簽： 粒子碰撞噪聲檢測(PIND) 集成電路 篩選

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