您當(dāng)前的位置:首頁(yè) > 華東光電集成器件研究所計(jì)量測(cè)試中心 > 半導(dǎo)體集成電路外殼中穩(wěn)態(tài)壽命檢測(cè)
樣品名稱(chēng):半導(dǎo)體集成電路外殼
檢測(cè)項(xiàng)目:穩(wěn)態(tài)壽命
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005方法1015.1
所屬行業(yè)分類(lèi):電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >
標(biāo)簽: 穩(wěn)態(tài)壽命 半導(dǎo)體集成電路外殼