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樣品名稱(chēng):無(wú)損檢測(cè)
檢測(cè)項(xiàng)目:覆層厚度
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):金屬和氧化物覆蓋層 厚度測(cè)量顯微鏡法 GB/T 6462-2005 ISO 1463:2003
所屬行業(yè)分類(lèi):材料分析
標(biāo)簽: 覆層厚度 無(wú)損檢測(cè)