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環(huán)境試驗中元器件損傷檢測

  • 樣品名稱：環(huán)境試驗

  • 檢測項目：元器件損傷

  • 認可資質：CNAS CMA

  • 檢測標準：電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 GB/T 2423.1-2008 IEC 60068-2-1:2007

  • 所屬行業(yè)分類：

  • 標簽： 元器件損傷 環(huán)境試驗

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