您當(dāng)前的位置:首頁 > 中國電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所檢測中心 > 半導(dǎo)體 集成電路中25℃下的 靜態(tài)試驗(yàn)檢測
樣品名稱:半導(dǎo)體 集成電路
檢測項(xiàng)目:25℃下的 靜態(tài)試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):強(qiáng)加速溫度和濕度應(yīng)力測試 JESD22-A110D-2010
所屬行業(yè)分類:
標(biāo)簽: 25℃下的 靜態(tài)試驗(yàn) 半導(dǎo)體 集成電路