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電子元器件中溫度沖擊 （氣體介質(zhì)）檢測

• 樣品名稱：電子元器件

• 檢測項目：溫度沖擊 （氣體介質(zhì)）

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗方法標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-883G-2006 方法1010.8

• 所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 環(huán)境試驗 >

• 標(biāo)簽： 溫度沖擊 （氣體介質(zhì)） 電子元器件