您當(dāng)前的位置:首頁 > 中國(guó)工程物理研究院計(jì)量測(cè)試中心 > 混合集成電路(含多芯片組件)中剪切強(qiáng)度檢測(cè)
樣品名稱:混合集成電路(含多芯片組件)
檢測(cè)項(xiàng)目:剪切強(qiáng)度
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GJB 4027A-2006 《軍用電子元器件破壞性物理分析方法 》
所屬行業(yè)分類:電子電氣
標(biāo)簽: 剪切強(qiáng)度 混合集成電路(含多芯片組件)