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混合集成電路(含多芯片組件)中掃描電子顯微鏡(SEM)檢查檢測

  • 樣品名稱：混合集成電路(含多芯片組件)

  • 檢測項(xiàng)目：掃描電子顯微鏡(SEM)檢查

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：GJB 4027A-2006 《軍用電子元器件破壞性物理分析方法 》

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 掃描電子顯微鏡(SEM)檢查 混合集成電路(含多芯片組件)

混合集成電路(含多芯片組件)中掃描電子顯微鏡(SEM)檢查更多檢測機(jī)構(gòu)

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