您當(dāng)前的位置:首頁(yè) > 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十四研究所質(zhì)檢中心 > 半導(dǎo)體集成電路中高溫貯存檢測(cè)
樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路
檢測(cè)項(xiàng)目:高溫貯存
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則: 振動(dòng)(正弦) GB/T2423.10-2008
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >
標(biāo)簽: 高溫貯存 半導(dǎo)體集成電路