您當(dāng)前的位置:首頁 > 中國(guó)物品編碼中心自動(dòng)識(shí)別技術(shù)檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室 > 射頻識(shí)別標(biāo)簽芯片中結(jié)構(gòu),參考點(diǎn)以及不涉及的項(xiàng)目檢測(cè)
中國(guó)物品編碼中心自動(dòng)識(shí)別技術(shù)檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室
北京市
樣品名稱:射頻識(shí)別標(biāo)簽芯片
檢測(cè)項(xiàng)目:結(jié)構(gòu),參考點(diǎn)以及不涉及的項(xiàng)目
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):ISO/IEC 18000-1:2008 信息技術(shù)——用于物品管理的射頻識(shí)別技術(shù)——第1部分:參考結(jié)構(gòu)和標(biāo)準(zhǔn)化參數(shù)定義
所屬行業(yè)分類:
標(biāo)簽: 結(jié)構(gòu),參考點(diǎn)以及不涉及的項(xiàng)目 射頻識(shí)別標(biāo)簽芯片