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集成電路(IC)卡中接觸式IC卡物理特性檢測(cè)

  • 樣品名稱：集成電路(IC)卡

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：接觸式IC卡物理特性

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1. GB/T 17554.3-2006識(shí)別卡 測(cè)試方法 第3部分：帶觸點(diǎn)的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備 2.ISO/IEC10373-3：2001識(shí)別卡－測(cè)試方法－第3部分：接觸式集成電路卡及相關(guān)接口設(shè)備

  • 所屬行業(yè)分類：

  • 標(biāo)簽： 接觸式IC卡物理特性 集成電路(IC)卡

集成電路(IC)卡中接觸式IC卡物理特性更多檢測(cè)機(jī)構(gòu)

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