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半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器中功能測(cè)試棋盤(pán)格檢測(cè)

• 樣品名稱(chēng)：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器

• 檢測(cè)項(xiàng)目：功能測(cè)試棋盤(pán)格

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17574－1998《半導(dǎo)體集成電路 第 2 部分 數(shù)字集成電路》

• 所屬行業(yè)分類(lèi)：

• 標(biāo)簽： 功能測(cè)試棋盤(pán)格 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器