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樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器
檢測(cè)項(xiàng)目:靜態(tài)條件下的電源電流ICC
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 17574-1998《半導(dǎo)體集成電路 第 2 部分 數(shù)字集成電路》
所屬行業(yè)分類: