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半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器中輸入負(fù)載電流IL1檢測(cè)

  • 樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：輸入負(fù)載電流IL1

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10739-1996 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >

  • 標(biāo)簽： 輸入負(fù)載電流IL1 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器

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