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中國計(jì)量科學(xué)研究院
北京市
樣品名稱:半電波暗室(SAC)和全電波暗室(FAC)
檢測(cè)項(xiàng)目:歸一化場(chǎng)地衰減(NSA)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 6113.105-2008,CISPR 16-1-5:2012,ANSI C63.4-2009 無線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法規(guī)范 第1-5部分: 無線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備
所屬行業(yè)分類:電子電氣
標(biāo)簽: 歸一化場(chǎng)地衰減(NSA) 半電波暗室(SAC)和全電波暗室(FAC)