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樣品名稱:電子元器件及設(shè)備 機(jī)械性能試驗
檢測項目:機(jī)械沖擊
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):1、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗方法
所屬行業(yè)分類:
標(biāo)簽: 機(jī)械沖擊 電子元器件及設(shè)備 機(jī)械性能試驗