您當前的位置:首頁 > 中國科學院半導體研究所元器件檢測中心 > 電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導體分立器件、微電子器件中耐腐蝕試驗檢測
樣品名稱:電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導體分立器件、微電子器件
檢測項目:耐腐蝕試驗
認可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標準:電子及電氣元件試驗方法 方法212穩(wěn)態(tài)加速度試驗 GJB360B-2009
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 環(huán)境試驗 >