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中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所照明檢測(cè)中心
北京市
樣品名稱(chēng):半導(dǎo)體材料
檢測(cè)項(xiàng)目:晶格常數(shù)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):轉(zhuǎn)靶多晶體X射線衍射方法通則; JY/T 009-1996 金屬點(diǎn)陣常數(shù)的測(cè)定方法 YB/T5337-2006 III族氮化物外延片晶格常數(shù)測(cè)試方法ZKB 0045-2013
所屬行業(yè)分類(lèi):
標(biāo)簽: 晶格常數(shù) 半導(dǎo)體材料