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元器件破壞性物理分析中鑒定試驗(yàn)檢測(cè)

  • 樣品名稱:元器件破壞性物理分析

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:鑒定試驗(yàn)

  • 認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):1、《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各種質(zhì)量等級(jí)軍用半導(dǎo)體器件破壞性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半導(dǎo)體分立器件失效分析方法和程序》

  • 所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >

  • 標(biāo)簽: 鑒定試驗(yàn) 元器件破壞性物理分析

元器件破壞性物理分析相關(guān)熱點(diǎn)檢測(cè)

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