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北京圣濤平試驗(yàn)工程技術(shù)研究院有限責(zé)任公司中心實(shí)驗(yàn)室
北京市
樣品名稱:元器件破壞性物理分析
檢測(cè)項(xiàng)目:鑒定試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):1、《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各種質(zhì)量等級(jí)軍用半導(dǎo)體器件破壞性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半導(dǎo)體分立器件失效分析方法和程序》
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >
標(biāo)簽: 鑒定試驗(yàn) 元器件破壞性物理分析