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微電路及器件中篩選試驗(yàn)檢測

  • 樣品名稱:微電路及器件

  • 檢測項(xiàng)目:篩選試驗(yàn)

  • 認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn):1、《微電路模塊總規(guī)范》SJ 20668-1998 2、《混合集成電路總規(guī)范》 GJB 2438A-2002 3、《集成電路應(yīng)力試驗(yàn)評(píng)價(jià)》AEC Q100-2007 4、《半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范》GJB597A-1996 5、《半導(dǎo)體器件 第1部分:半導(dǎo)體分

  • 所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測 >

  • 標(biāo)簽: 篩選試驗(yàn) 微電路及器件

微電路及器件相關(guān)熱點(diǎn)檢測

微電路及器件中篩選試驗(yàn)更多檢測機(jī)構(gòu)