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中國電子科技集團(tuán)公司第七研究所凱爾實(shí)驗(yàn)室

檢測項(xiàng)：位速率 檢測樣品：直流-直流變換設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn)：YD/T 1376-2005通信用直流-直流模塊電源 YD/T 637-2006 通信用直流-直流變換設(shè)備

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省廣州市 更多相關(guān)信息>>

中國航空工業(yè)第十區(qū)域成都計(jì)量站

檢測項(xiàng)：某一位置的雙向重復(fù)定位精度 檢測樣品：機(jī)械零部件（幾何量） 標(biāo)準(zhǔn)：《光滑工件的檢驗(yàn)》GB/T 3177-2009

機(jī)構(gòu)所在地：四川省成都市 更多相關(guān)信息>>

中國軟件評測中心

檢測項(xiàng)：功能性 檢測樣品：信息交換用漢字編碼字符集 標(biāo)準(zhǔn)：《信息技術(shù) 信息交換用漢字編碼字符集 基本集的擴(kuò)充》 GB 18030-2005 《信息技術(shù) 通用多八位編碼字符集(UCS) 》 GB 13000-2010

檢測項(xiàng)：可靠性 檢測樣品：信息交換用漢字編碼字符集 標(biāo)準(zhǔn)：《信息技術(shù) 信息交換用漢字編碼字符集 基本集的擴(kuò)充》 GB 18030-2005 《信息技術(shù) 通用多八位編碼字符集(UCS) 》 GB 13000-2010

檢測項(xiàng)：易用性 檢測樣品：信息交換用漢字編碼字符集 標(biāo)準(zhǔn)：《信息技術(shù) 信息交換用漢字編碼字符集 基本集的擴(kuò)充》 GB 18030-2005 《信息技術(shù) 通用多八位編碼字符集(UCS) 》 GB 13000-2010

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團(tuán)公司第二十七研究所計(jì)量檢測中心

檢測項(xiàng)：輸入鉗位電壓VIK 檢測樣品：半導(dǎo)體 集成電路TTL電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理SJ/T10735-1996

機(jī)構(gòu)所在地：河南省鄭州市 更多相關(guān)信息>>

中國檢驗(yàn)檢疫科學(xué)研究院綜合檢測中心

檢測項(xiàng)：二噁英 檢測樣品：環(huán)境樣品 標(biāo)準(zhǔn)：水質(zhì) 二噁英類的測定 同 位素稀釋高分辯氣相色譜 -高分辨質(zhì)譜法 HJ 77.1-2008

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所檢測中心

檢測項(xiàng)：輸入鉗位電壓VIK 檢測樣品：微波組件 標(biāo)準(zhǔn)：1、SJ 20527A-2003 微波組件通用規(guī)范 2、GJB 899A-2009 可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn) 3、SJ 20645-1997 微波電路放大器測試方法

檢測項(xiàng)：輸入鉗位電壓VIK 檢測樣品：微波組件 標(biāo)準(zhǔn)：1、SJ 20527A-2003 微波組件通用規(guī)范 2、GJB 899A-2009 可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn) 3、SJ 20645-1997 微波電路放大器測試方法

機(jī)構(gòu)所在地：河北省石家莊市 更多相關(guān)信息>>

無錫紡織機(jī)械質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心

檢測項(xiàng)：形位公差 檢測樣品：棉紡環(huán)錠細(xì)紗機(jī)牽伸下羅拉 標(biāo)準(zhǔn)：產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（GPS）形狀和位置公差 檢測規(guī)定 GB/T1958-2004

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省無錫市 更多相關(guān)信息>>

廣東省電子電器產(chǎn)品監(jiān)督檢驗(yàn)所

檢測項(xiàng)：第一位特征數(shù)字所表示的防止固體異物進(jìn)入試驗(yàn) 檢測樣品：雙極型晶體管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分：雙極型晶體管 GB/T 4587-1994

檢測項(xiàng)：第二位特征數(shù)字所表示的防止水進(jìn)入的試驗(yàn) 檢測樣品：雙極型晶體管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分：雙極型晶體管 GB/T 4587-1994

檢測項(xiàng)：第一位特征數(shù)字所表示的對接近危險(xiǎn)部件防護(hù)的試驗(yàn) 檢測樣品：外殼防護(hù)等級（IP代碼） 標(biāo)準(zhǔn)：外殼防護(hù)等級（IP代碼） GB 4208-2008 IEC60529-2011 EN 60529:1991/A1:2000

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省廣州市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團(tuán)公司第二十四研究所質(zhì)檢中心

檢測項(xiàng)：DAC信噪比、信噪失真比、總諧波失真、有效位無失真動(dòng)態(tài)范圍 檢測樣品：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器 標(biāo)準(zhǔn)：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理　 SJ20961-2006

檢測項(xiàng)：ADC信噪比、信噪失真比、總諧波失真、有效位無失真動(dòng)態(tài)范圍 檢測樣品：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器 標(biāo)準(zhǔn)：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理　 SJ20961-2006

機(jī)構(gòu)所在地：重慶市 更多相關(guān)信息>>

中國船舶重工集團(tuán)公司第七二二研究所計(jì)量檢測中心

檢測項(xiàng)：形位誤差 檢測樣品：機(jī)械零、部件 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1958-2004 《產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（GPS）形狀和位置公差檢測規(guī)定》

檢測項(xiàng)：輸入鉗位電壓VIK 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路TTL電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10735-1996《半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理》

檢測項(xiàng)：輸入鉗位電壓VIK 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理》

機(jī)構(gòu)所在地：湖北省武漢市 更多相關(guān)信息>>