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中國航空綜合技術研究所航空綜合環(huán)境航空科技重點實驗室

檢測項：截止態(tài)漏級漏電流 ID（off） 檢測樣品：模擬集成電路 標準：GB/T 14030-1992 《半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理》

檢測項：零柵壓時的漏極電流IDDS 檢測樣品：場效應管 標準：GB/T4586-1994 《半導體器件分立器件 第8部分:場效應晶體管》

檢測項：漏--源短路時的柵極截止電流IGSS 檢測樣品：晶體二極管 標準：GB4589.1-1989《半導體器件分立器件和集成電路總規(guī)范》

機構所在地：北京市 更多相關信息>>

中國艦船研究設計中心檢測校準實驗室

檢測項：微波漏能 檢測樣品：艦船總體 標準：①HJB237-2001《艦船電磁兼容性試驗方法》 ②HJB34A-2007《艦船電磁兼容性要求》

檢測項：微波漏能 檢測樣品：艦船總體 標準：《艦船電磁兼容性試驗方法》 HJB237-2001 《艦船電磁兼容規(guī)范》 HJB34A-2007 《艦船系統(tǒng)界面要求電磁環(huán)境直流磁場環(huán)境》 GJB1446.41-1992

機構所在地：湖北省武漢市 更多相關信息>>

中國電子科技集團公司第十研究所天奧校準/檢測實驗室

檢測項：漏－源擊穿電壓 檢測樣品：晶閘管 標準：半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法3407

檢測項：漏極電流 檢測樣品：場效應 晶體管 標準：半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法3407

檢測項：靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻 檢測樣品：場效應 晶體管 標準：半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法3407

機構所在地：四川省成都市 更多相關信息>>

貴州航天計量測試技術研究所

檢測項：截止態(tài)漏極漏電流ID 檢測樣品：V/F、F/V轉換器 標準：《半導體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉換器》 GB/T 14114-1993

檢測項：漏源極截止電流IDSS 檢測樣品：晶體振蕩器 標準：《晶體振蕩器總規(guī)范》GJB 1648-1993

檢測項：靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻rDS 檢測樣品：晶體振蕩器 標準：《晶體振蕩器總規(guī)范》GJB 1648-1993

機構所在地：貴州省貴陽市 更多相關信息>>

北京振興計量測試研究所

檢測項：柵源短路時的漏極電流 檢測樣品：晶體管 標準：半導體分立器件和集成電路 第7部分：雙極型晶體管 GB/T4587-1994

檢測項：截止態(tài)漏極漏電流ID(off) 檢測樣品：脈寬調(diào)制器 標準：半導體集成電路開關電源脈寬調(diào)制器測試方法 QJ2660-1994

檢測項：電感量 檢測樣品：電感器 標準：線繞預調(diào)電位器總規(guī)范 GJB917－1990

機構所在地：北京市 更多相關信息>>

湖北出入境檢驗檢疫局檢驗檢疫技術中心（湖北中檢檢測有限公司）

檢測項：耐漏液性能 檢測樣品：鋰原電池 標準：原電池 第4部分：鋰電池的安全要求 GB 8897.4-2008

檢測項：耐漏液性能 檢測樣品：手表電池 標準：原電池 第1部分IEC 60086-1:2007 總則原電池 第2部分：外形尺寸和技術要素 IEC 60086-2:2007

檢測項：耐漏液性能 檢測樣品：手表電池 標準：原電池 第3部分：手表電池 GB/T 8897.3-2006 IEC 60086-3:2004

機構所在地：湖北省武漢市 更多相關信息>>

洛陽軸承研究所檢驗實驗室

檢測項：殘磁 檢測樣品：滾動軸承 標準：JB/T8571-2008滾動軸承 密封深溝球軸承防塵、漏脂、溫升性能試驗規(guī)程

檢測項：表面粗糙度 檢測樣品：精密機械零部件 標準：GB/T 7220-2004產(chǎn)品幾何量技術規(guī)范（GPS） 表面結構 輪廓法 表面粗糙度 術語 參數(shù)測量

檢測項：形狀和位置公差 檢測樣品：精密機械零部件 標準：GB/T 1958-2004產(chǎn)品幾何量技術規(guī)范 形狀和位置公差檢測規(guī)定

機構所在地：河南省洛陽市 更多相關信息>>

湖北省計量測試技術研究院

檢測項：漏射線 檢測樣品：攜帶式工業(yè)X射線探傷機 標準：攜帶式工業(yè)X射線探傷機 JB/T 7413-1994

檢測項：漏辨率 檢測樣品：人民幣偽鈔鑒別儀 標準：人民幣偽鈔鑒別儀 GB 16999-2010

檢測項：漏射線 檢測樣品：固定式（移動式）工業(yè)X射線探傷機 標準：固定式（移動式）工業(yè)X射線探傷機 JB/T 7412-1994

機構所在地：湖北省武漢市 更多相關信息>>

上海精密計量測試研究所

檢測項：靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻RDS(on) 檢測樣品：半導體集成電路時基電路 標準：GB/T14030-1992 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理

檢測項：漏-源擊穿電壓V(BR)DSS 檢測樣品：半導體集成電路時基電路 標準：GB/T14030-1992 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理

檢測項：漏極截止電流IDSS 檢測樣品：半導體集成電路時基電路 標準：GB/T14030-1992 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理

機構所在地：上海市 更多相關信息>>

杭州軸承試驗研究中心有限公司檢測實驗室

檢測項：密封性能試驗 檢測樣品：滾動軸承 標準：滾動軸承 密封深溝球軸承防塵、漏脂和溫升性能試驗規(guī)程 JB/T 8571-2008

機構所在地：浙江省杭州市 更多相關信息>>