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機(jī)構(gòu)所在地:上海市
機(jī)構(gòu)所在地:寧夏回族自治區(qū)銀川市
檢測(cè)項(xiàng):反向漏過(guò)電流 檢測(cè)樣品:光電耦合器 標(biāo)準(zhǔn):GB/T15651.3-2003半導(dǎo)體器件分立器件第5部分光電子器件
機(jī)構(gòu)所在地:江蘇省南京市
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
檢測(cè)項(xiàng):密封試驗(yàn) 檢測(cè)樣品:元器件 篩選 標(biāo)準(zhǔn):《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》 GJB 548B-2005
檢測(cè)項(xiàng):密封試驗(yàn) 檢測(cè)樣品:元器件 篩選 標(biāo)準(zhǔn):《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》 GJB 548B-2005
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
機(jī)構(gòu)所在地:湖南省長(zhǎng)沙市
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省深圳市
機(jī)構(gòu)所在地:四川省成都市
機(jī)構(gòu)所在地:北京市