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中達(dá)電子（江蘇）有限公司分析實(shí)驗(yàn)室

檢測項：熔融和結(jié)晶溫度及熱焓 檢測樣品：電子電氣設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 19466.1-2004(通則) GB/T 19466.3-2004(熔融和結(jié)晶溫度以及熱焓測定)

檢測項：元器件可焊性測試 檢測樣品：整流二極管 標(biāo)準(zhǔn)：引線、端子、焊片、接線柱和導(dǎo)線的可焊性測試 EIA/IPC/JEDEC J-STD-002D (2013)

檢測項：靜電放電抗擾度試驗(yàn) 檢測樣品：信息技術(shù) 設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17618-1998 CISPR 24:2010 EN 55024:2010 信息技術(shù)設(shè)備抗擾度限值和測量方法

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富智康精密組件（北京）有限公司華北檢測中心

檢測項：低溫試驗(yàn) 檢測樣品：電子電氣產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：①環(huán)境測試 第2部分 低溫試驗(yàn) Test A IEC 60068-2-1-2007 方法Ab

檢測項：高溫試驗(yàn) 檢測樣品：電子電氣產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：①環(huán)境測試第2部分 干熱儲存 Test B IEC 60068-2-2-2007 方法Bb

檢測項：溫度變化(沖擊)試驗(yàn) 檢測樣品：電子電氣產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：①環(huán)境測試第2部分 溫度變化 Test N IEC60068-2-14-2009 方法Na

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

臺表科技（蘇州）電子有限公司實(shí)驗(yàn)室

檢測項：反射器最高工作溫度 檢測樣品：螺旋式緊湊型熒光燈(CFL) （定向型/非定型） 標(biāo)準(zhǔn)：能源之星對緊湊型熒光燈(CFLs)的要求Version 4.3

檢測項：漏電起痕測試 檢測樣品：非金屬材料（除玻璃和陶瓷） 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4207-2003 固體絕緣材料在潮濕條件下相比電痕化指數(shù)和耐電痕化指數(shù)的測定方法

檢測項：漏電起痕測試 檢測樣品：非金屬材料（除玻璃和陶瓷） 標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60112-2009 固體絕緣材料在潮濕條件下相比電痕化指數(shù)和耐電痕化指數(shù)的測定方法

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省吳江市 更多相關(guān)信息>>

緯創(chuàng)資通（中山）有限公司品質(zhì)工程實(shí)驗(yàn)室

檢測項：高溫試驗(yàn) 檢測樣品：電子電工 產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-2-2007 環(huán)境試驗(yàn) - 第2-2部分：測試 - 試驗(yàn)B:高溫

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省中山市 更多相關(guān)信息>>

名碩電腦（蘇州）有限公司技術(shù)服務(wù)部

檢測項：鄰苯二甲酸酯 檢測樣品：電子電工產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：索氏萃取法　　　　　　　　　　　　　　　　　　 US EPA 354

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省蘇州市 更多相關(guān)信息>>

天祥公證行有限公司玩具、食品及雜貨部

檢測項：色牢度 檢測樣品：玩具和兒童用品 標(biāo)準(zhǔn)：著色玩具的耐唾液色牢度及耐汗?jié)n色牢度測試德國方法

檢測項：可溶性鉛和鎘 檢測樣品：食品接觸材料/陶瓷制品 標(biāo)準(zhǔn)：玻璃凹形器皿-與食物接觸的玻璃凹形器皿制品鉛、鎘溶出量 ISO 7086-1: 2000 第一部:測試方法 ISO 7086-2: 2000 第二部: 允許極限

檢測項：可溶性鉛和鎘 檢測樣品：食品接觸材料/陶瓷制品 標(biāo)準(zhǔn)：陶瓷制廚房用具-與食物接觸的瓷制廚房用具鉛、鎘溶出量 ISO 8391-1: 1986 第一部:測試方法 ISO 8391-2: 1986 第二部: 允許極限

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香港通用檢測認(rèn)證有限公司

檢測項：特定元素遷移(Pb, Sb, Cr, Hg, As, Ba, Se, Cd) 檢測樣品：玩具 標(biāo)準(zhǔn)：兒童三輪車安全要求 GB 14747-2006, 測試方法: GB 6675-2003 C.1

檢測項：特定元素遷移(Pb, Sb, Cr, Hg, As, Ba, Se, Cd) 檢測樣品：玩具 標(biāo)準(zhǔn)：嬰兒學(xué)步車安全要求 GB 14749-2006 , 測試方法: GB 6675-2003 C.1

檢測項：可溶性鉛和鎘 檢測樣品：食品接觸材料 標(biāo)準(zhǔn)：與食品接觸的材料和物品.硅化表面.第2部分:測定從除陶瓷品外其他硅化表面釋放的鉛和鎘 DIN EN 1388-2:1995 BS EN 1388-2: 1995 EN1388-2: 1995

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香港科技園公司無線通訊測試中心

檢測項：一般測試 檢測樣品：WCDMA 移動臺 標(biāo)準(zhǔn)：只測 Band I, II, III, V and VI WCDMA 終端 不測HSUPA， 6.2.1.7及 6.2.1.8

檢測項：一般測試 檢測樣品：WCDMA 移動臺 標(biāo)準(zhǔn)：只測 Band I, II, III, V and VI WCDMA 終端 不測振動條件下的射頻參數(shù) 不測輻射條件下的射頻測試 不測測試項5.13.2, 7.6.3, 7.7.3, 7.11, 及 7.12

檢測項：一般測試 檢測樣品：GSM 移動臺 標(biāo)準(zhǔn)：GPRS不測Extended Dynamic Allocation 和測試項20.22.5, 41.1.5.3, 20.22.17, 20.22.8, 20.22.9.1, 20.22.9.2, 44.2.8.1.2, 47.1.1, 47.1.2, 47

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北京航天計量測試技術(shù)研究所

檢測項：溫度波動度 檢測樣品：高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 GB/T 5170.10-2008

檢測項：溫度均勻度 檢測樣品：高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 GB/T 5170.10-2008

檢測項：低氣壓偏差 檢測樣品：高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 GB/T 5170.10-2008

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

西安航天計量測試研究所

檢測項：垂直度 檢測樣品：高低溫試驗(yàn)箱 標(biāo)準(zhǔn)：高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB 10592-2008

檢測項：垂直度 檢測樣品：高低溫試驗(yàn)箱 標(biāo)準(zhǔn)：高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB/T 10592-2008

檢測項：溫度偏差 檢測樣品：高低溫試驗(yàn)箱 標(biāo)準(zhǔn)：高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB 10592-2008

機(jī)構(gòu)所在地：陜西省西安市 更多相關(guān)信息>>