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無針輸液連接件中正向流動的檢測

檢測項：正向流動 檢測樣品：無針輸液連接件 標準：輸液連接件 第2部分：無針連接件 YY0581.2-2011附錄A.6

檢測機構(gòu)：醫(yī)療器械檢測研究院 更多相關(guān)信息>>

無針輸液連接件中正向流動的檢測

檢測項：正向流動 檢測樣品：無針輸液連接件 標準：無針輸液連接件 第2部分：無針連接件 YY0581.2-2011附錄A.4.1

檢測機構(gòu)：醫(yī)藥醫(yī)療器械檢測中心 更多相關(guān)信息>>

整流二極管中正向直流電壓的檢測

檢測項：正向直流電壓 檢測樣品：整流二極管 標準：GB/T4023-2015/7.1.2 半導體器件 分立器件和集成電路第2部分：整流二極管

檢測機構(gòu)：國家電子電器產(chǎn)品檢測中心 更多相關(guān)信息>>

晶體二極管中正向電壓VF的檢測

檢測項：正向電壓VF 檢測樣品：晶體二極管 標準：《半導體器件分立器件和集成電路總規(guī)范》GB4589.1-1989

檢測機構(gòu)：國家機械電子產(chǎn)品環(huán)境與可靠性質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心 更多相關(guān)信息>>

中達電子（江蘇）有限公司分析實驗室

檢測項：VFM: 正向峰值電壓 檢測樣品：雙極型晶體管 標準：半導體器件 分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

檢測項：VGS(off): 柵-源截止電壓/VGS(th):閾值電壓 檢測樣品：電子電氣產(chǎn)品 標準：電子電氣產(chǎn)品中限用的六種物質(zhì)（鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚）的測定IEC 62321 -2008

檢測項：V(BR)DS*:崩潰電壓 檢測樣品：場效應晶體管 標準：半導體器件 分立器件和集成電路 第8部分:場效應晶體管IEC 60747-8(第三版 2010-12)

機構(gòu)所在地： 更多相關(guān)信息>>

西北機電工程研究所檢測和校準實驗室

檢測項：正向電壓VF 檢測樣品：二極管 標準：《半導體分立器件試驗方法》 GJB 128A-1997

檢測項：正向電壓VF 檢測樣品：二極管 標準：《高穩(wěn)定薄膜固定電阻器總規(guī)范》 GJB 1929-1994

檢測項：正向電壓VF 檢測樣品：二極管 標準：《片式膜固定電阻器通用規(guī)范》 GJB 1432B-2009

機構(gòu)所在地：陜西省咸陽市 更多相關(guān)信息>>

惠州科銳半導體照明有限公司光電實驗室

檢測項：正向電壓(VF) 檢測樣品：發(fā)光二極管 (LED) 標準：國際照明委員會技朮報告 LED測量 CIE127-2007

檢測項：正向電流(IF) 檢測樣品：發(fā)光二極管 (LED) 標準：半導體集成電路封裝結(jié)到外殼熱阻測試方法 GB/T14862-1993

機構(gòu)所在地：廣東省惠州市 更多相關(guān)信息>>

中國航空綜合技術(shù)研究所航空綜合環(huán)境航空科技重點實驗室

檢測項：正向電壓VF 檢測樣品：晶體二極管 標準：GB4589.1-1989《半導體器件分立器件和集成電路總規(guī)范》

檢測項：小信號短路正向跨導gfs 檢測樣品：晶體二極管 標準：GB4589.1-1989《半導體器件分立器件和集成電路總規(guī)范》

檢測項：輸入正向閾值電壓VIT+ 檢測樣品：模擬集成電路 標準：GB/T6798-1996《半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理》 GB3442-1986 《半導體集成電路運算（電壓）放大器測試方法的基本原理》

機構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團公司第十三研究所檢測中心

檢測項：正向電壓VF 檢測樣品：微電路模塊 標準：1、SJ 20668-1998 微電路模塊總規(guī)范 2、SJ 20645-1997 微波電路放大器測試方法

檢測項：正向電壓VF 檢測樣品：微電路模塊 標準：1、SJ 20668-1998 微電路模塊總規(guī)范 2、SJ 20645-1997 微波電路放大器測試方法

檢測項：正向電壓VF 檢測樣品：二極管 標準：1、GB/T 4023-1997 半導體器件分立器件和集成電路第2部分：整流二極管 . 2、GB/T 6571-1995 半導體器件分

機構(gòu)所在地：河北省石家莊市 更多相關(guān)信息>>

上海精密計量測試研究所

檢測項：正向電壓VF 檢測樣品：光電耦合器 標準：GB/T15651-1995 半導體器件分立器件和集成電路第5部分：光電子器件

檢測項：正向電壓VF 檢測樣品：光電耦合器 標準：GB/T15651-1995 半導體器件分立器件和集成電路第5部分：光電子器件

檢測項：短路正向跨導gfs 檢測樣品：半導體集成電路時基電路 標準：GB/T14030-1992 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理

機構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>