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北京尊冠科技有限公司

檢測(cè)項(xiàng)：正向直流電壓（VF） 檢測(cè)樣品：信號(hào)（包括開關(guān)）和調(diào)整二級(jí)管 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6571－1995《半導(dǎo)體器件 分立器件 第3部分：信號(hào)（包括開關(guān)）和調(diào)整二級(jí)管》

檢測(cè)項(xiàng)：正向電壓（VF） 檢測(cè)樣品：雙極型晶 體管 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4587－94 《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第7部分：雙極型晶體管》

檢測(cè)項(xiàng)：輸入二級(jí)管正向電壓VF 檢測(cè)樣品：光電耦合器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 15651.2－2003《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第5-2部分：光電子器件基本額定值和特性》

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北京賽迪君信電子產(chǎn)品檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室有限公司

檢測(cè)項(xiàng)：正向直流電壓VF 檢測(cè)樣品：二極管 標(biāo)準(zhǔn)：1.GB/T 4023-1997半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第2部分：整流二極管； 2.GB/T 6571-1995半導(dǎo)體器件分立器件第3部分：信號(hào)（包括開關(guān)）和調(diào)整二極管；

檢測(cè)項(xiàng)：正向跨導(dǎo)gfs 檢測(cè)樣品：光耦合器 標(biāo)準(zhǔn)：1.GB/T15651.3-2003半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-3部分：光電子器件測(cè)試方法 2.GB12565-1990半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范

檢測(cè)項(xiàng)：正向柵源漏電流Igssf 檢測(cè)樣品：光耦合器 標(biāo)準(zhǔn)：1.GB/T15651.3-2003半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-3部分：光電子器件測(cè)試方法 2.GB12565-1990半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范

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西北機(jī)電工程研究所檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：正向電壓VF 檢測(cè)樣品：二極管 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》 GJB 128A-1997

檢測(cè)項(xiàng)：正向電壓VF 檢測(cè)樣品：二極管 標(biāo)準(zhǔn)：《高穩(wěn)定薄膜固定電阻器總規(guī)范》 GJB 1929-1994

檢測(cè)項(xiàng)：正向電壓VF 檢測(cè)樣品：二極管 標(biāo)準(zhǔn)：《片式膜固定電阻器通用規(guī)范》 GJB 1432B-2009

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惠州科銳半導(dǎo)體照明有限公司光電實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：正向電壓(VF) 檢測(cè)樣品：發(fā)光二極管 (LED) 標(biāo)準(zhǔn)：國(guó)際照明委員會(huì)技朮報(bào)告 LED測(cè)量 CIE127-2007

檢測(cè)項(xiàng)：正向電流(IF) 檢測(cè)樣品：發(fā)光二極管 (LED) 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路封裝結(jié)到外殼熱阻測(cè)試方法 GB/T14862-1993

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省惠州市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)航空綜合技術(shù)研究所航空綜合環(huán)境航空科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：正向電壓VF 檢測(cè)樣品：晶體二極管 標(biāo)準(zhǔn)：GB4589.1-1989《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路總規(guī)范》

檢測(cè)項(xiàng)：小信號(hào)短路正向跨導(dǎo)gfs 檢測(cè)樣品：晶體二極管 標(biāo)準(zhǔn)：GB4589.1-1989《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路總規(guī)范》

檢測(cè)項(xiàng)：輸入正向閾值電壓VIT+ 檢測(cè)樣品：模擬集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T6798-1996《半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理》 GB3442-1986 《半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算（電壓）放大器測(cè)試方法的基本原理》

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中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：正向電壓VF 檢測(cè)樣品：微電路模塊 標(biāo)準(zhǔn)：1、SJ 20668-1998 微電路模塊總規(guī)范 2、SJ 20645-1997 微波電路放大器測(cè)試方法

檢測(cè)項(xiàng)：正向電壓VF 檢測(cè)樣品：微電路模塊 標(biāo)準(zhǔn)：1、SJ 20668-1998 微電路模塊總規(guī)范 2、SJ 20645-1997 微波電路放大器測(cè)試方法

檢測(cè)項(xiàng)：正向電壓VF 檢測(cè)樣品：二極管 標(biāo)準(zhǔn)：1、GB/T 4023-1997 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第2部分：整流二極管 . 2、GB/T 6571-1995 半導(dǎo)體器件分

機(jī)構(gòu)所在地：河北省石家莊市 更多相關(guān)信息>>

上海精密計(jì)量測(cè)試研究所

檢測(cè)項(xiàng)：正向電壓VF 檢測(cè)樣品：光電耦合器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T15651-1995 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第5部分：光電子器件

檢測(cè)項(xiàng)：正向電壓VF 檢測(cè)樣品：光電耦合器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T15651-1995 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第5部分：光電子器件

檢測(cè)項(xiàng)：短路正向跨導(dǎo)gfs 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T14030-1992 半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理

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中國(guó)船舶重工集團(tuán)公司第七二二研究所計(jì)量檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：正向電壓VF 檢測(cè)樣品：二極管 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T6571-1995《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)第3部分：信號(hào)（包括開關(guān)）和調(diào)整二極管》

檢測(cè)項(xiàng)：正向壓降VF 檢測(cè)樣品：光電耦合器 標(biāo)準(zhǔn)：GB╱T15651-1995 《半導(dǎo)體器件 分立器件第5部分： 光電子器件》 GB／T6571-1995《半導(dǎo)體分立器件 第3部分》 GB／T4587-1994《半導(dǎo)體器件分立器件第7部分雙極型晶體管》第Ⅳ章

檢測(cè)項(xiàng)：正向閾值電壓下的輸入電流IT+ 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理》

機(jī)構(gòu)所在地：湖北省武漢市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)空空導(dǎo)彈研究院元器件檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：正向電壓VF 檢測(cè)樣品：晶體二極管 標(biāo)準(zhǔn)：GB4589.1-2006 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路總規(guī)范

檢測(cè)項(xiàng)：輸入正向閾值電壓VIT+ 檢測(cè)樣品：數(shù)字集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17574-1998半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分 數(shù)字集成電路

檢測(cè)項(xiàng)：小信號(hào)短路正向跨導(dǎo)gfs 檢測(cè)樣品：場(chǎng)效應(yīng)管 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T4586-1994 半導(dǎo)體器件分立器件第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管

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湖南航天管理局計(jì)量檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：正向電壓VF 檢測(cè)樣品：光電耦合器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T15651-1995 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第5部分：光電子器件

檢測(cè)項(xiàng)：正向電壓VF 檢測(cè)樣品：光電耦合器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T15651-1995 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第5部分：光電子器件

檢測(cè)項(xiàng)：反向電流IR 檢測(cè)樣品：二極管 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T6571-1995 半導(dǎo)體器件分立器件第3部分：信號(hào)（包括開關(guān)）和調(diào)整二極管

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