您當前的位置:首頁 > 撞擊試驗(自由元件)
檢測項:元器件可焊性測試 檢測樣品:整流二極管 標準:引線、端子、焊片、接線柱和導線的可焊性測試 EIA/IPC/JEDEC J-STD-002D (2013)
機構所在地:
檢測項:一般測試 檢測樣品:WCDMA 移動臺 標準:只測 Band I, II, III, V and VI WCDMA 終端 不測HSUPA, 6.2.1.7及 6.2.1.8
機構所在地:
檢測項:自由跌落試驗 檢測樣品:環(huán)境試驗* 標準:GB/T 2423.8-1995《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落》
機構所在地:湖北省武漢市
檢測項:自由跌落試驗 檢測樣品:電工電子產品環(huán)境試驗自由跌落試驗 標準:GB/T 2423.8-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落
檢測項:自由跌落試驗 檢測樣品:電工電子產品環(huán)境試驗自由跌落試驗 標準:電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995
機構所在地:遼寧省沈陽市
檢測項:自由跌落 檢測樣品:電工電子產品 標準:電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995
機構所在地:福建省廈門市