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云南出入境檢驗(yàn)檢疫局檢驗(yàn)檢疫技術(shù)中心

檢測項(xiàng)：沒食子酸十二酯（DG） 檢測樣品：食用油 標(biāo)準(zhǔn)：橄欖油感官品評分析方法COI/T.20/DOC.NO.15

機(jī)構(gòu)所在地：云南省昆明市 更多相關(guān)信息>>

華東電力試驗(yàn)研究院有限公司

檢測項(xiàng)：游離氧化鈣 檢測樣品：固體 廢棄物 標(biāo)準(zhǔn)：粉煤灰混凝土應(yīng)用技術(shù)規(guī)程 DG/TJ08－230－2006

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

公安部第三研究所安全防范與信息安全產(chǎn)品及系統(tǒng)檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室

檢測項(xiàng)：全部項(xiàng)目** 檢測樣品：電視視頻通道 標(biāo)準(zhǔn)：《涉外建設(shè)項(xiàng)目視頻安防監(jiān)控系統(tǒng)設(shè)計(jì)規(guī)范》 DG/TJ08-2054-2009

檢測項(xiàng)：部分項(xiàng)目* 檢測樣品：電視視頻通道 標(biāo)準(zhǔn)：《電視視頻通道測試方法》 GB 3659-1983

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

亞旭電子科技（江蘇）有限公司零件工程實(shí)驗(yàn)室

檢測項(xiàng)：掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析 檢測樣品：集成電路/微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法5003 微電路的失效分析程序 GJB 548B-2005

檢測項(xiàng)：掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析 檢測樣品：電阻器/電容器 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法5003 微電路的失效分析程序 GJB 548B-2005

檢測項(xiàng)：內(nèi)部檢查 檢測樣品：集成電路/微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法5003 微電路的失效分析程序 GJB 548B-2005

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省蘇州市 更多相關(guān)信息>>

湖南省食品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)研究院

檢測項(xiàng)：錫 檢測樣品：飲用水類 標(biāo)準(zhǔn)：生活飲用水標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)方法金屬指標(biāo)GB/T5750.6-2006 17

機(jī)構(gòu)所在地：湖南省長沙市 更多相關(guān)信息>>

貴州航天計(jì)量測試技術(shù)研究所

檢測項(xiàng)：微分電阻rZ 檢測樣品：光電耦合器 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第5部分：光電子器件》GB/T 15651-1995 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》GJB 128A-1997

檢測項(xiàng)：差模開環(huán)電壓增益AVD 檢測樣品：A/D 、D/A轉(zhuǎn)換器 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測試方法》 SJ/T 10818-1996

檢測項(xiàng)：開環(huán)電壓增益AVD 檢測樣品：模擬開關(guān) 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)測試方法的基本原理》GB/T 14028-1992

機(jī)構(gòu)所在地：貴州省貴陽市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團(tuán)公司第二十四研究所質(zhì)檢中心

檢測項(xiàng)：DAC微分線性誤差 檢測樣品：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器 標(biāo)準(zhǔn)：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理　 SJ20961-2006

檢測項(xiàng)：DAC微分線性誤差溫度系數(shù) 檢測樣品：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器 標(biāo)準(zhǔn)：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理　 SJ20961-2006

檢測項(xiàng)：ADC微分線性誤差 檢測樣品：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器 標(biāo)準(zhǔn)：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理　 SJ20961-2006

機(jī)構(gòu)所在地：重慶市 更多相關(guān)信息>>

湖北航天技術(shù)研究院計(jì)量測試技術(shù)研究所

檢測項(xiàng)：微分電阻RZ 檢測樣品：晶體管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件和集成電路第7部分：場效應(yīng)晶體管 GB/T 4587-1994

檢測項(xiàng)：部分參數(shù) 檢測樣品：運(yùn)算（電壓）放大器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算(電壓)放大器測試方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

機(jī)構(gòu)所在地：湖北省孝感市 更多相關(guān)信息>>

中興通訊股份有限公司材料實(shí)驗(yàn)室

檢測項(xiàng)：紅外顯微分析 檢測樣品：電子電工產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：測試方法手冊 IPC-TM-650 2.3.39-2004（C版本）

檢測項(xiàng)：紅外顯微分析 檢測樣品：電子電工產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：測試方法手冊 IPC-TM-650 2.3.39-2004（C版本）

檢測項(xiàng)：掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析 檢測樣品：微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省深圳市 更多相關(guān)信息>>

北京科技大學(xué)新金屬材料國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

檢測項(xiàng)：定性分析 檢測樣品：金屬與合金 標(biāo)準(zhǔn)：波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則 GB/T 20725-2006

檢測項(xiàng)：定性分析 檢測樣品：硅酸鹽礦物 標(biāo)準(zhǔn)：波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則 GB/T 20725-2006

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>