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檢測項:開環(huán)電壓增益 檢測樣品:TTL電路 標準:SJ/T 10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理
機構(gòu)所在地:云南省昆明市
檢測項:增益 檢測樣品:直放站 標準:800MHz/2GHz CDMA數(shù)字蜂窩移動通信網(wǎng)模擬直放站技術(shù)要求和測試方法 YD/T 1596-2011
檢測項:增益 檢測樣品:直放站 標準:900MHz/1800MHz TDMA數(shù)字蜂窩移動通信網(wǎng)數(shù)字直放站技術(shù)要求和測試方法 YD/T 2355-2011
機構(gòu)所在地:浙江省杭州市
機構(gòu)所在地:山東省濟南市
檢測項:開環(huán)電壓增益 檢測樣品:電壓比較器 標準:半導(dǎo)體集成電路電壓比較器 測試方法的基本原理 GB/T6798-1996
檢測項:開環(huán)電壓增益 檢測樣品:電壓比較器 標準:半導(dǎo)體集成電路電壓比較器 測試方法的基本原理 GB/T6798-1996
機構(gòu)所在地:重慶市
檢測項:增益誤差EG 檢測樣品:混合集成電路A/D、D/A變換器 標準:SJ 20961-2006集成電路A/D、D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理
機構(gòu)所在地:河南省洛陽市
檢測項:開環(huán)電壓增益 檢測樣品:模擬集成電路 標準:《半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范》GJB597A-1996
機構(gòu)所在地:上海市