您當(dāng)前的位置:首頁 > 影響試驗
檢測項:殘影 檢測樣品:醫(yī)用X射線診斷設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn):醫(yī)用X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測規(guī)范 WS76-2020
檢測機構(gòu):醫(yī)療器械檢測研究院 更多相關(guān)信息>>
檢測項:殘影 檢測樣品:醫(yī)用X射線診斷設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn):醫(yī)用X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測規(guī)范 WS76-2020
檢測機構(gòu):醫(yī)藥醫(yī)療器械檢測中心 更多相關(guān)信息>>
檢測項:成像性能—偽影 檢測樣品:乳腺X射線機 標(biāo)準(zhǔn):乳腺X射線機專用技術(shù)條件YY/T0706-2008
檢測機構(gòu):國家電子電器產(chǎn)品檢測中心 更多相關(guān)信息>>
檢測項:投擲試驗 檢測樣品:玩具 標(biāo)準(zhǔn):聯(lián)邦危險物質(zhì)法 16CFR條款1500.50、1500.51(b)、 1500.52(b)、1500.53(b)
檢測項:撓曲測試 檢測樣品:玩具 標(biāo)準(zhǔn):美國玩具安全標(biāo)準(zhǔn) ASTM F963-11 條款 8.12
檢測項:供8歲以下兒童使用的玩具或其他物品的銳利尖端測試技術(shù)要求 檢測樣品:玩具 標(biāo)準(zhǔn):聯(lián)邦危險物質(zhì)法 16 CFR條款1500.48
機構(gòu)所在地:廣東省佛山市
檢測項:鄰苯二甲酸酯 檢測樣品:電子電工產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn):索氏萃取法 US EPA 354
機構(gòu)所在地:江蘇省蘇州市
機構(gòu)所在地:北京市