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一、檢測范圍 密封膠 檢測可分為彈性密封膠、液體密封膠和密封膩?zhàn)尤箢悺０椿戏诸悾? 1 橡膠型 此類密封膠以橡膠為基料。常用橡膠有聚硫橡膠、硅橡膠、聚氨酯橡膠、氯丁橡膠和丁基橡膠等。 2 樹脂型 ...查看詳情>>
一、檢測范圍
密封膠檢測可分為彈性密封膠、液體密封膠和密封膩?zhàn)尤箢?。按基料分類?/span>
1 橡膠型
此類密封膠以橡膠為基料。常用橡膠有聚硫橡膠、硅橡膠、聚氨酯橡膠、氯丁橡膠和丁基橡膠等。
2 樹脂型
此類密封膠以樹脂為基料。常用樹脂有環(huán)氧樹脂、不飽和聚酯樹脂、酚醛樹脂、聚丙烯酸樹脂、聚氯乙烯樹脂等。
3 油基型
此類密封膠以油料為基礎(chǔ)。常用的油料有各種植物油和亞麻油，蓖麻油和桐油，以及動物油，如魚油等。
二、檢測項目
物理性能：外觀、密度、粘度、灰分、pH值、固化速度、針入度、固體含量、電性能、適用期、固化時間。擠出性、下垂度、熱失重、水蒸氣透過率等。
化學(xué)性能：環(huán)氧當(dāng)量、環(huán)氧值、異氰酸酯基、游離甲醛含量，pH值，酸值等。
力學(xué)性能：膠合強(qiáng)度、內(nèi)結(jié)合強(qiáng)度、粘結(jié)強(qiáng)度、剝離強(qiáng)度、剪切強(qiáng)度、拉伸強(qiáng)度、斷裂伸長度、彈性恢復(fù)率、定伸粘結(jié)性、低溫柔性，沖擊強(qiáng)度，疲勞強(qiáng)度，撕裂強(qiáng)度等。
老化性能：大氣老化、大氣加速老化、人工模擬氣候加速老化、濕熱老化、鹽霧老化等。
重點(diǎn)項目：密度、擠出性、表干時間，流動性、低溫柔性、拉伸粘結(jié)性、定伸粘結(jié)性、浸水后拉伸粘結(jié)性。浸水后定伸粘結(jié)性、同一溫度下拉伸——壓縮循環(huán)后粘結(jié)性，冷拉——熱壓后粘結(jié)性、拉伸——壓縮循環(huán)后粘結(jié)性、經(jīng)過熱、透過玻璃的人工光源和水暴露后粘結(jié)性、壓縮特性、彈性恢復(fù)率、粘結(jié)性、質(zhì)量與體積變化（質(zhì)量損失率），污染性、滲出性指數(shù)。
三、檢測標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 13477——2002建筑密封材料試驗方法
收起百科↑ 最近更新：2018年09月14日
檢測項：老煉試驗 檢測樣品： 標(biāo)準(zhǔn)：
檢測項：老煉試驗 檢測樣品： 標(biāo)準(zhǔn)：GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法
檢測項：密封性檢測 檢測樣品： 標(biāo)準(zhǔn)：
機(jī)構(gòu)所在地：上海市
檢測項：全部項目 檢測樣品：老視成鏡 標(biāo)準(zhǔn)：眼科光學(xué)-眼鏡架-通用要求和試驗方法 ISO 12870:2012
檢測項：全部項目 檢測樣品：老視成鏡 標(biāo)準(zhǔn)：眼鏡架-通用要求和試驗方法 JIS B 7285：2008
機(jī)構(gòu)所在地：廣東省深圳市
檢測項：老視成鏡兩鏡片頂焦度互差 檢測樣品：太陽鏡 標(biāo)準(zhǔn)：GB10810.1-2005 眼鏡鏡片面 第1部分：單光和多焦點(diǎn)鏡片
機(jī)構(gòu)所在地：海南省海口市
檢測項：頂焦度 檢測樣品：老視鏡 標(biāo)準(zhǔn)：配裝眼鏡第1部分:單光和多焦點(diǎn)GB13511.1-2011
機(jī)構(gòu)所在地：青海省西寧市
檢測項：老煉（二極管、整流管和穩(wěn)壓管） 檢測樣品：微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005
檢測項：老煉（晶體管） 檢測樣品：微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005
機(jī)構(gòu)所在地：湖北省武漢市
檢測項：老煉試驗 檢測樣品：微波組件 標(biāo)準(zhǔn)：《微波元器件性能測試方法》GJB2650-1996
檢測項：密封性 檢測 檢測樣品：微波組件 標(biāo)準(zhǔn)：《微波元器件性能測試方法》GJB2650-1996
機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省揚(yáng)州市
檢測項：老視鏡頂焦度互差 檢測樣品：配裝眼鏡(漸變焦) 標(biāo)準(zhǔn)：配裝眼鏡 第2部分：漸變焦GB 13511.2-2011
檢測項：材料 檢測樣品：陶瓷片密封水嘴 標(biāo)準(zhǔn)：陶瓷片密封水嘴 GB 18145-2003
檢測項：上密封試驗 檢測樣品：陶瓷片密封水嘴 標(biāo)準(zhǔn)：陶瓷片密封水嘴 GB 18145-2003
機(jī)構(gòu)所在地：福建省廈門市
檢測項：老煉 檢測樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：GJB 128A-1997《 半導(dǎo)體分立器件試驗方法》
檢測項：老煉 檢測樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：GJB548B-2005《微電子器件試驗方法和程》序
檢測項：密封性 檢測樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：GJB4027A-2006 《軍用電子元器件破壞物理分析方法》
機(jī)構(gòu)所在地：北京市
