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檢測項:外部目檢 檢測樣品:電子元器件 標準:《微電子器件試驗方法和程序》 方法 2009.1 外部目檢 GJB 548B-2005
機構所在地:廣東省深圳市 更多相關信息>>
檢測項:外部目檢 檢測樣品:集成電路 標準:GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序
檢測項:汽車操縱件、信號裝置外部照明 檢測樣品:汽車 標準:2.東風汽車公司汽車試驗場 中型載貨汽車產品定型可靠性行駛試驗規(guī)范
檢測項:汽車操縱件、信號裝置外部照明 檢測樣品:汽車 標準:3.東風汽車公司汽車試驗場 輕型載貨汽車產品定型可靠性行駛試驗規(guī)范
機構所在地:北京市 更多相關信息>>
檢測項:外部目檢 檢測樣品:微波組件 標準:《微波元器件性能測試方法》GJB2650-1996
機構所在地:江蘇省揚州市 更多相關信息>>
檢測項:外部目檢 檢測樣品:微電子器件 標準:《微電子器件試驗方法和程序》GJB548B-2005
檢測項:晶體管內部目檢(封帽前) 檢測樣品:半導體分立器件 標準:《半導體分立器件試驗方法》GJB128A-1997
檢測項:內部目檢(半導體二極管) 檢測樣品:半導體分立器件 標準:《半導體分立器件試驗方法》GJB128A-1997
機構所在地:貴州省貴陽市 更多相關信息>>
檢測項:外部目檢 檢測樣品:微電子器件 標準:GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 GJB548A-1996 微電子器件試驗方法和程序
檢測項:非透明玻璃封裝、雙管腳、非空腔、軸向引線二極管外觀目檢 檢測樣品:半導體分立器件 標準:GJB128A-1997 半導體分立器件試驗方法
機構所在地:上海市 更多相關信息>>
檢測項:外部目檢和標志檢查 檢測樣品:混合集成電路 標準:膜集成電路和混合膜集成電路 總規(guī)范 GB/T8976-1996
機構所在地:重慶市 更多相關信息>>
檢測項:外部目檢 檢測樣品:金屬膜固定電阻器 標準:GJB 4027A-2006 《軍用電子元器件破壞性物理分析方法 》
檢測項:外部目檢 檢測樣品:片式固定電阻器 標準:GJB 4027A-2006 《軍用電子元器件破壞性物理分析方法 》
檢測項:外部目檢 檢測樣品:多層瓷介(獨石)電容器 標準:GJB 4027A-2006 《軍用電子元器件破壞性物理分析方法 》
機構所在地:四川省綿陽市 更多相關信息>>
檢測項:外部目檢 檢測樣品:微電子器件 標準:微電子器件試驗方法和程序 GJB548B-2005
檢測項:外觀目檢 檢測樣品:半導體分立器件 標準:半導體分立器件試驗方法 GJB128A-97
檢測項:外觀目檢 檢測樣品:電磁繼電器 標準:電磁繼電器總規(guī)范 GJB65B-99
機構所在地:陜西省西安市 更多相關信息>>
檢測項:外部目檢和機械檢查 檢測樣品:電磁繼電器 標準:《電磁繼電器總技術條件》 SJ891-1974
檢測項:外部目檢和機械檢查 檢測樣品:電磁繼電器 標準:《電磁繼電器通用規(guī)范》GJB1042A-2002
檢測項:內部目檢和機械檢查 檢測樣品:電磁繼電器 標準:《電磁繼電器總技術條件》 SJ891-1974
檢測項:外部目檢 檢測樣品:塑封半導體集成電路 標準:軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第23部分:傾斜和搖擺試驗 GJB150.23A-2009
檢測項:外部目檢 檢測樣品:塑封半導體集成電路 標準:軍用設備環(huán)境試驗方法 傾斜和搖擺試驗 GJB 150.23-1991
檢測項:外部目檢 檢測樣品:塑封半導體集成電路 標準:軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027-2006
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