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檢測項:開環(huán)電壓增益 檢測樣品:半導(dǎo)體集成電路運算放大器 標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理SJ/T10738-1996
檢測項:增益帶寬積 檢測樣品:半導(dǎo)體集成電路運算放大器 標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理SJ/T10738-1996
檢測項:開環(huán)電壓增益 檢測樣品:半導(dǎo)體集成電路運算放大器 標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理SJ/T10738-1996
機構(gòu)所在地:陜西省西安市
檢測項:直流增益 檢測樣品:晶體管 標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體測試方法測試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750F:2012 方法3076.1
機構(gòu)所在地:陜西省西安市
機構(gòu)所在地:廣東省深圳市
機構(gòu)所在地:廣東省廣州市
機構(gòu)所在地:廣東省廣州市
檢測項:開環(huán)電壓增益 檢測樣品:半導(dǎo)體集成電路電壓比較器 標(biāo)準(zhǔn):GB/T6798-1996 半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理
檢測項:開環(huán)電壓增益 檢測樣品:晶體三極管 標(biāo)準(zhǔn):GB/T4587-1994 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管
檢測項:開環(huán)電壓增益 檢測樣品:半導(dǎo)體集成電路電壓比較器 標(biāo)準(zhǔn):GB/T6798-1996 《半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理》
機構(gòu)所在地:江蘇省連云港市
機構(gòu)所在地:北京市
機構(gòu)所在地:上海市
機構(gòu)所在地:北京市
檢測項:增益 檢測樣品:聲頻功率放大器 標(biāo)準(zhǔn):聲頻功率放大器通用技術(shù)條件 SJ/T10406-1993
檢測項:多通道放大器中通道間的增益差和相位差 檢測樣品:聲頻功率放大器 標(biāo)準(zhǔn):聲頻功率放大器通用技術(shù)條件 SJ/T10406-1993
機構(gòu)所在地:四川省成都市