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波美度(DegreeBaum′e) 采用玻璃管式浮計中的一種特殊分度方式的波美計所給出的值稱為波美度，符號為°B′e。用于間接地給出液體的密度。 波美度 測試儀器：波美度測試儀 查看詳情>>
波美度(DegreeBaum′e)
采用玻璃管式浮計中的一種特殊分度方式的波美計所給出的值稱為波美度，符號為°B′e。用于間接地給出液體的密度。
波美度測試儀器：波美度測試儀
收起百科↑ 最近更新：2017年04月12日
檢測項：滿功率帶寬 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器 標準：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
檢測項：老煉 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路 標準：半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分：半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范 （不包括混合電路） GB/T12750-2006
檢測項：密封 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路 標準：半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分：半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范 （不包括混合電路） GB/T12750-2006
機構(gòu)所在地：重慶市
檢測項：1042 老煉和壽命試驗（功率場效應(yīng)晶體管或絕緣柵雙極晶體管） 檢測樣品：半導(dǎo)體器件 標準：GJB128A-97 《半導(dǎo)體分立器件試驗方法》
檢測項：電流調(diào)整率SI 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路TTL電路、CMOS電路 標準：GB/T 17574－1998《半導(dǎo)體集成電路 第 2 部分 數(shù)字集成電路》
檢測項：紋波抑制比Srip 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路TTL電路、CMOS電路 標準：GB/T 17574－1998《半導(dǎo)體集成電路 第 2 部分 數(shù)字集成電路》
機構(gòu)所在地：北京市
檢測項：固體中γ放射性核素比活度 檢測樣品：環(huán)境介質(zhì) 標準：用半導(dǎo)體γ譜儀分析低比活度γ放射性樣品的標準方法 GB/T 11713-1989
檢測項：液體中γ放射性核素比活度 檢測樣品：環(huán)境介質(zhì) 標準：用半導(dǎo)體γ譜儀分析低比活度γ放射性樣品的標準方法 GB/T 11713-1989
檢測項：固體中α放射性核素比活度 檢測樣品：環(huán)境介質(zhì) 標準：用半導(dǎo)體γ譜儀分析低比活度γ放射性樣品的標準方法 GB/T 11713-1989
機構(gòu)所在地：北京市
檢測項：圓度誤差 檢測樣品：圓形工件 標準：評定圓度誤差的方法 半徑變化量測量 GB/T7235-2004
檢測項：部分參數(shù) 檢測樣品：彈簧度盤秤 標準：彈簧度盤秤 GB/T11884-2008
機構(gòu)所在地：江西省南昌市
