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成都凱天電子股份有限公司實驗中心

檢測項：共模抑制比 檢測樣品：電壓比較器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理GB/T6798-1996

檢測項：共模抑制比 檢測樣品：二極管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 分立器件 第3部分:信號(包括開關(guān))和調(diào)整二極管GB/T6571-1995 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第2部分：整流二極管 GB/T4023-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗方法GJB128A-1997

機構(gòu)所在地：四川省成都市 更多相關(guān)信息>>

北京泰瑞特檢測技術(shù)服務(wù)有限責(zé)任公司

檢測項：電信端口的傳導(dǎo)共模騷擾 檢測樣品：電氣照明和類似設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn)：電氣照明和類似設(shè)備的無線電騷擾特性的限值和測量方法 CISPR 15:2013

機構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

武漢中原電子集團有限公司計量檢測中心

檢測項：共模抑制比 檢測樣品：運算放大器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器 測試方法的基本原理 GB/T 6798-1996

檢測項：共模抑制比 檢測樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

機構(gòu)所在地：湖北省武漢市 更多相關(guān)信息>>

華東電子測量儀器研究所電子儀器產(chǎn)品質(zhì)量檢驗中心

檢測項：交流共模抑制能力 檢測樣品：直流數(shù)字 電壓表 標(biāo)準(zhǔn)：數(shù)字多用表通用技術(shù)條件GB/T 13978-2008

檢測項：共模干擾抑制能力實驗 檢測樣品：直流數(shù)字 電壓表 標(biāo)準(zhǔn)：數(shù)字多用表通用技術(shù)條件GB/T 13978-2008

檢測項：串模干擾抑制能力實驗 檢測樣品：直流數(shù)字 電壓表 標(biāo)準(zhǔn)：數(shù)字多用表通用技術(shù)條件GB/T 13978-2008

機構(gòu)所在地：安徽省蚌埠市 更多相關(guān)信息>>

北京無線電計量測試研究所

檢測項：共模干擾抑制能力試驗 檢測樣品：多功能校準(zhǔn)器 標(biāo)準(zhǔn)：數(shù)字多用表校準(zhǔn)儀通用技術(shù)條件 GB/T15637-1995

檢測項：串模干擾抑制能力試驗 檢測樣品：多功能校準(zhǔn)器 標(biāo)準(zhǔn)：數(shù)字多用表校準(zhǔn)儀通用技術(shù)條件 GB/T15637-1995

機構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

貴州航天計量測試技術(shù)研究所

檢測項：共模抑制比KCMR 檢測樣品：A/D 、D/A轉(zhuǎn)換器 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測試方法》 SJ/T 10818-1996

檢測項：共模抑制比KCMR 檢測樣品：模擬開關(guān) 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)測試方法的基本原理》GB/T 14028-1992

檢測項：共模抑制比（誤差放大器）KCMR 檢測樣品：脈寬調(diào)制器 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脈寬調(diào)制器詳細(xì)規(guī)范》SJ 20294-1993

機構(gòu)所在地：貴州省貴陽市 更多相關(guān)信息>>

上海精密計量測試研究所

檢測項：共模抑制比KCMR 檢測樣品：三端穩(wěn)壓電源（電壓調(diào)整器） 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T4377-1996 半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測試方法的基本原理

檢測項：共模抑制比CMRR 檢測樣品：模擬乘法器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 14029-1992 半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理

檢測項：共模抑制比CMRR 檢測樣品：模擬乘法器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 14029-1992 半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理

機構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

北京東方計量測試研究所

檢測項：直流電壓功能共模干擾抑制比 檢測樣品：多功能校準(zhǔn)源 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 15637-1995 數(shù)字多用表校準(zhǔn)儀通用技術(shù)條件

檢測項：直流電壓功能共模干擾抑制比 檢測樣品：多功能校準(zhǔn)源 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 15637-1995 數(shù)字多用表校準(zhǔn)儀通用技術(shù)條件

檢測項：直流電壓功能共模干擾抑制比 檢測樣品：工業(yè)過程測量和控制系統(tǒng)用模擬輸入數(shù)字式指示儀 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 13639-1992工業(yè)過程測量和控制系統(tǒng)用模擬輸入數(shù)字式指示儀

機構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

北京市電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測中心

檢測項：直流電壓共模干擾抑制能力 檢測樣品：數(shù)字多用表 標(biāo)準(zhǔn)：數(shù)字多用表通用技術(shù)條件 GB/T 13978—2008

檢測項：部分項目 檢測樣品：電烤箱、面包烘烤器、華夫烙餅?zāi)＜邦愃朴猛酒骶?nbsp;標(biāo)準(zhǔn)：家用和類似用途電器的安全 電烤箱、面包烘烤器、華夫烙餅?zāi)＜邦愃朴猛酒骶叩奶厥庖?GB 4706.14—2008

檢測項：直流電壓串模干擾抑制能力 檢測樣品：數(shù)字多用表 標(biāo)準(zhǔn)：數(shù)字多用表通用技術(shù)條件 GB/T 13978—2008

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西南技術(shù)物理研究所檢測校準(zhǔn)中心實驗室

檢測項：共模抑制比 檢測樣品：時基電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路時基電路測試方法的基本原理 GB/T 14030-1992

檢測項：共模抑制比 檢測樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電路試驗方法和程序GJB 548B-2005

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