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云南昆船電子設(shè)備有限公司藍(lán)海綜合實(shí)驗(yàn)中心

檢測項(xiàng)：輸入失調(diào)電流 檢測樣品：TTL電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T 10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流 檢測樣品：TTL電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T 10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理

檢測項(xiàng)：開環(huán)電壓增益 檢測樣品：TTL電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T 10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理

機(jī)構(gòu)所在地：云南省昆明市 更多相關(guān)信息>>

西南計算機(jī)有限責(zé)任公司檢測計量與軟件測評中心

檢測項(xiàng)：輸入鉗位電壓 檢測樣品：TTL集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路TTL電路 測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996

檢測項(xiàng)：結(jié)冰試驗(yàn) 檢測樣品：TTL集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：民用飛機(jī)機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件 和試驗(yàn)方法-流體敏感性試驗(yàn) HB6167.9-89

檢測項(xiàng)：結(jié)冰試驗(yàn) 檢測樣品：TTL集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：民用飛機(jī)機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件 和試驗(yàn)方法-結(jié)冰試驗(yàn) HB6167.13-92

機(jī)構(gòu)所在地：重慶市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團(tuán)公司第四十七研究所電子器件質(zhì)量檢測實(shí)驗(yàn)室

檢測項(xiàng)：輸出高電平電流IOH 檢測樣品：TTL 電路測試 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996

檢測項(xiàng)：輸出低電平電流IOL 檢測樣品：TTL 電路測試 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996

檢測項(xiàng)：輸出高阻態(tài)時高電平電流IOZH 檢測樣品：TTL 電路測試 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996

機(jī)構(gòu)所在地：遼寧省沈陽市 更多相關(guān)信息>>

中國船舶重工集團(tuán)公司第723研究所電工電子設(shè)備環(huán)境與可靠性試驗(yàn)檢測中心

檢測項(xiàng)：功能測試 檢測樣品：TTL集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：《機(jī)車車輛電氣設(shè)備電磁兼容性試驗(yàn)及其限值》 TB/T 3034-2002

檢測項(xiàng)：功能測試 檢測樣品：TTL集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：《鐵道信號電氣設(shè)備電磁兼容性試驗(yàn)及其限值》TB/T 3073-2003

檢測項(xiàng)：功能測試 檢測樣品：TTL集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：《信息技術(shù)設(shè)備的無線電騷擾限值和測量方法》 GB 9254-2008

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省揚(yáng)州市 更多相關(guān)信息>>

北京尊冠科技有限公司

檢測項(xiàng)：電流調(diào)整率SI 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路TTL電路、CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17574－1998《半導(dǎo)體集成電路 第 2 部分 數(shù)字集成電路》

檢測項(xiàng)：紋波抑制比Srip 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路TTL電路、CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17574－1998《半導(dǎo)體集成電路 第 2 部分 數(shù)字集成電路》

檢測項(xiàng)：邏輯功能 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路TTL電路、CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17574－1998《半導(dǎo)體集成電路 第 2 部分 數(shù)字集成電路》

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團(tuán)公司第十研究所天奧校準(zhǔn)/檢測實(shí)驗(yàn)室

檢測項(xiàng)：輸出高電平電壓 檢測樣品：TTL 集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的 基本原理 SJ/T10735－1996 第2.1、2.2、2.5、2.11、2.12、2.13、2.21、2.23、2.24、2.25、2.26、2.27條

檢測項(xiàng)：輸出低電平電壓 檢測樣品：TTL 集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的 基本原理 SJ/T10735－1996 第2.1、2.2、2.5、2.11、2.12、2.13、2.21、2.23、2.24、2.25、2.26、2.27條

檢測項(xiàng)：輸入電流 檢測樣品：TTL 集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的 基本原理 SJ/T10735－1996 第2.1、2.2、2.5、2.11、2.12、2.13、2.21、2.23、2.24、2.25、2.26、2.27條

機(jī)構(gòu)所在地：四川省成都市 更多相關(guān)信息>>

湖北航天技術(shù)研究院計量測試技術(shù)研究所

檢測項(xiàng)：靜態(tài)參數(shù) 檢測樣品：采樣/保持放大器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理 GB/T 14115-1993 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T 10735-1996；

檢測項(xiàng)：動態(tài)參數(shù) 檢測樣品：采樣/保持放大器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理 GB/T 14115-1993 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T 10735-1996；

檢測項(xiàng)：部分參數(shù) 檢測樣品：D/A轉(zhuǎn)換器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ/T 10818-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T 10735-1996；

機(jī)構(gòu)所在地：湖北省孝感市 更多相關(guān)信息>>

上海無線電設(shè)備研究所環(huán)境與檢測實(shí)驗(yàn)室

檢測項(xiàng)：輸出高電平電壓 檢測樣品：TTL電路、COMS電路 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范》GJB597A-1996 《半導(dǎo)體集成電路第2部分:數(shù)字集成電路第Ⅳ篇第

檢測項(xiàng)：輸入低電平電流 檢測樣品：TTL電路、COMS電路 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范》GJB597A-1996 《半導(dǎo)體集成電路第2部分:數(shù)字集成電路第Ⅳ篇第

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

陜西千山航空電子有限責(zé)任公司檢測中心

檢測項(xiàng)：功能及部分電參數(shù)測試 檢測樣品：集成電路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存儲器、接口、運(yùn)放、比較器、集成穩(wěn)壓器、電壓基準(zhǔn)等) 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548A-96 中4.5節(jié)及產(chǎn)品手冊要求

檢測項(xiàng)：功能及部分電參數(shù)測試 檢測樣品：集成電路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存儲器、接口、運(yùn)放、比較器、集成穩(wěn)壓器、電壓基準(zhǔn)等) 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548A-96 中4.5節(jié)及產(chǎn)品手冊要求

檢測項(xiàng)：功能及部分電參數(shù)測試 檢測樣品：集成電路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存儲器、接口、運(yùn)放、比較器、集成穩(wěn)壓器、電壓基準(zhǔn)等) 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548A-96 中4.5節(jié)及產(chǎn)品手冊要求

機(jī)構(gòu)所在地：陜西省西安市 更多相關(guān)信息>>

北京振興計量測試研究所

檢測項(xiàng)：交流參數(shù) 檢測樣品：數(shù)字電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 半導(dǎo)體集成電路TTL測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 半導(dǎo)體集成電路雙極性隨機(jī)存儲器測試方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半導(dǎo)體集成電路

檢測項(xiàng)：直流參數(shù) 檢測樣品：數(shù)字電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 半導(dǎo)體集成電路TTL測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 半導(dǎo)體集成電路雙極性隨機(jī)存儲器測試方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半導(dǎo)體集成電路

檢測項(xiàng)：導(dǎo)通電阻RON 檢測樣品：模擬開關(guān) 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)測試方法的基本原理 GB/T 14028-1992

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>