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檢測(cè)項(xiàng):反向電流IR 檢測(cè)樣品:二極管 標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件分立器件 第3部分:信號(hào)(包括開關(guān))和調(diào)整二極管 GB/T 6571-1995 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第2部分: 整流二極管 GB/T 4023-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997
機(jī)構(gòu)所在地:湖北省孝感市 更多相關(guān)信息>>
檢測(cè)項(xiàng):電流傳輸比 檢測(cè)樣品:光電耦合器 標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體光電耦合器測(cè)試方法 SJ 2215.1~2215.14-1982
檢測(cè)項(xiàng):集電極-發(fā)射極反向擊穿電壓 檢測(cè)樣品:光電耦合器 標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體光電耦合器測(cè)試方法 SJ 2215.1~2215.14-1982
機(jī)構(gòu)所在地:四川省成都市 更多相關(guān)信息>>
檢測(cè)項(xiàng):反向漏電流(IR) 檢測(cè)樣品:晶體管 標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 GB/T4587-94 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-97
機(jī)構(gòu)所在地:陜西省西安市 更多相關(guān)信息>>
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