客戶反映，使用CS16312CEN的整機在生產(chǎn)檢測時，存在顯示多劃的情況。本次共投入1000pcs電路，抽檢100pcs發(fā)現(xiàn)3pcs電路存在異常。25日收到三塊拆機電路（電路批號均為MFAU206U20Y）和兩塊整機板，要求我司分析原因。
1、收到反饋電路后，首先對反饋電路進行編號1#~3#，然后在我司測試部進行復測：1#、2#兩塊電路無法通過我司出廠測試程序，主要失效項是Pin26（SG12/GD11）、Pin25（SG13/GD10）引腳接觸失效、電路顯示功能異常，3#電路可通過復測。
2、在實驗室使用我司測試夾具對反饋電路進行實裝測試：測試電路全滅與全亮情況，結果與復測結果一致（1#、2#電路確實存在顯示多劃的異?，F(xiàn)象，3#電路則功能正常）。具體見下圖：
1#反饋電路初始上電實裝結果
2#反饋電路初始上電實裝結果
3#反饋電路初始上電實裝結果
良品與3個反饋電路全顯測試均正常
3、使用晶體管特性儀對反饋電路進行檢測并與正常電路做對比，1#、2#電路均出現(xiàn)管腳對VDD漏電或對VDD短路的異常現(xiàn)象，3#電路引腳特性并無異常。
4、使用FLEKE萬用表二極管檔和電阻檔對比測試引腳特性如下：
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測試項目
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反饋電路
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良品
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1# Pin26對VDD二極管特性
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0.01V
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0.66V
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1# Pin26對VDD電阻特性
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10.85Ω
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88.6kΩ
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2# Pin25對VDD二極管特性
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0.25V
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0.66V
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2# Pin25對VDD電阻特性
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0.7kΩ
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89kΩ
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5、我司針對3#電路進行了各項嚴格的熱沖擊和電沖擊考核（高、低溫老化測試（-40℃～85℃）、ESD測試、EFT測試），考核后的電路，經(jīng)測試功能正常，并未出現(xiàn)多劃等異?，F(xiàn)象，應為正常電路。
6、我司安排對1#和 2#反饋電路進行了解剖，解剖后的芯片在光學顯微鏡下鏡檢，發(fā)現(xiàn)Pin26、Pin25引腳的保護管已被擊穿。如下圖：
1#樣品Pin26保護管已被擊穿
2#樣品Pin25保護管已被擊穿
客戶反饋的三塊電路，其中兩塊已經(jīng)不能通過我司的出廠檢測，根據(jù)測試結果來看反饋電路已損壞失效。解剖的芯片表面有明顯的擊穿痕跡，根據(jù)照片判斷電路應該是在生產(chǎn)、測試過程中收到了異常的高壓沖擊或靜電沖擊等。已建議客戶其排查產(chǎn)線設備、測試設備是否接地良好，員工操作是否存在異常，并加強員工、轉運設施（包裝袋、轉運箱等）的靜電防護等有效措施。
另一塊電路可以通過我司的出廠檢測，實裝測試電路功能正常，且可以通過各種嚴格的電沖擊和熱沖擊測試，該電路應為良品。反饋的異常現(xiàn)象可能與外圍相關。
根據(jù)我司應用工程師現(xiàn)場服務的情況來看，客戶對于顯示模塊僅進行了全亮測試，這樣并不能讓多劃的異常整機暴露出來。建議客戶其對CS16312顯示模塊采取全亮和全滅的測試，這樣可以在前道剔除“多劃”或“缺劃”的異常電路，也可縮小排查的范圍。
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